点源目标成像的探测距离计算方法
公开
摘要
本发明提供一种点源目标成像的探测距离计算方法，包括如下步骤：S1、将目标信号与背景信号分别转换为目标信号电子数和背景信号电子数；S2、将目标信号电子数、背景信号电子数、光电探测器的特征参数代入到信噪比计算公式；S3、在已知探测信噪比的前提下对信噪比计算公式做逆运算，获得探测距离。利用上述本发明提供的点源目标成像的探测距离计算方法，综合考虑目标信号、背景信号、光学系统和探测器参数对探测信噪比的影响，代入到信噪比计算公式，能够精确计算出目标到光学系统入瞳的探测距离。
基本信息
专利标题 ：
点源目标成像的探测距离计算方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593894A
申请号 ：
CN202011303139.5
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-11-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
殷丽梅刘帅
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹卫良
优先权 ：
CN202011303139.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01J5/52 G01J5/53 G06F17/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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