一种确定X射线成像的曝光区域的方法、装置和存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施方式公开了一种确定X射线成像的曝光区域的方法、装置和存储介质。该方法包括:确定对应于X射线成像协议的初始曝光区域;基于对应于所述X射线成像协议的调整值调整所述初始曝光区域,其中所述调整值是基于历史上的、对应于所述X射线成像协议的调整后曝光区域与该调整后曝光区域的调整前曝光区域的对比而确定的。本发明实施方式基于历史数据确定的调整值对初始曝光区域进行自动调整,调整后的曝光区域符合用户习惯。本发明实施方式还可以基于多种形式的调整值调整初始曝光区域,具有良好的适应性。

基本信息
专利标题 :
一种确定X射线成像的曝光区域的方法、装置和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114529498A
申请号 :
CN202011319408.7
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2020-11-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邹赟哲曹景泰游章科
申请人 :
上海西门子医疗器械有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区周祝公路278号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011319408.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G16H20/40  G16H30/20  A61B6/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20201123
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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