本发明公开了一种基于偏振先验的电路板表面缺陷检测方法，包括：S1、获取被测电路板的红外强度图像和可见光偏振图像；S2、对可见光偏振图像进行去马赛克操作，得到斯托克斯矢量图像，根据斯托克斯矢量图像计算得到：可见光偏振度图像、可见光偏振角图像；S3、将S1中得到的红外强度图像和可见光偏振图像，以及S2中得到的可见光偏振度图像和可见光偏振角图像输入到预先训练好的深度神经网络，得到缺陷检测结果。解决了现有技术中利用传统图像处理方法进行检测时效率低的问题，以及利用单一输入的基于深度学习的方法难以检测所有缺陷的问题。