测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质
公开
摘要
本发明实施例公开了一种测试校准方法、装置、设备以及存储介质，其中该方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，所述方法包括：在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数。如此，能够保证待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐的准确性，提升后续测试效果。
基本信息
专利标题 ：
测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114584755A
申请号 ：
CN202011375666.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曾文彬王岩
申请人 ：
浙江宇视科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路88号10幢南座1-11层、2幢A区1-3楼、2幢B区2楼
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
王素燕
优先权 ：
CN202011375666.7
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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