一种高速激光共聚焦显微成像系统、方法及扫描头
公开
摘要
本发明属于显微成像领域，公开了一种高速激光共聚焦显微成像系统、方法及扫描头，该成像系统包括高速激光共聚焦显微成像扫描头、显微物镜模组、控制系统面板；高速激光共聚焦显微成像扫描头由多波长激光光源、中继光学组、第一MEMS扫描振镜、第二MEMS扫描振镜、荧光图像采集模组、同步驱动控制模组组成；通过同步驱动控制模组控制第一MEMS扫描振镜与第二MEMS扫描振镜的谐振频率及相位同步。以第一MEMS扫描振镜、第二MEMS扫描振镜为核心，通过同步扫描提高了扫描效率，实现了高速高分辨共聚焦荧光成像，为活体细胞的高速荧光成像和检测提供一种新的解决方案。
基本信息
专利标题 ：
一种高速激光共聚焦显微成像系统、方法及扫描头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577758A
申请号 ：
CN202011383394.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-12-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴东岷王懋
申请人 ：
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区若水路398号
代理机构 ：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王利斌
优先权 ：
CN202011383394.5
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G02B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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