一种射频低噪放电路故障诊断方法、系统、介质及应用

授权

摘要

本发明属于射频电路技术领域，公开了一种射频低噪放电路故障诊断方法、系统、介质及应用，输入模型的状态数、初始概率分布、初始状态转移矩阵、迭代误差、最大迭代步数和观测矢量序列；由K‑means算法以模型状态数分割训练样本数据，再由GMM初始估计高斯混合密度参数，获得CHMM的初始模型；通过Baum‑Welch模型进行参数模型训练，获得第i步迭代的重估模型；由Viterbi算法计算该重估模型下的输出概率，计算重估模型输出概率的增长误差；依次迭代直至满足误差条件收敛或者超过迭代步数，把重估的模型作为最终的结果模型。对于射频电路中元器件开路短路故障识别率可以达到100％的准确率。

基本信息

专利标题：

一种射频低噪放电路故障诊断方法、系统、介质及应用

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112731098A

申请号：

CN202011395989.2

公开（公告）日：

2021-04-30

申请日：

2020-12-03

授权号：

CN112731098B

授权日：

2022-04-29

发明人：

孙璐李洋杜晗梁佩佩权星

申请人：

西安电子科技大学

申请人地址：

陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学

代理机构：

西安长和专利代理有限公司

代理人：

何畏

优先权：

CN202011395989.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-04-29 ：

授权

2021-05-21 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20201203

2021-04-30 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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