一种获取无基准位置度的方法
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摘要
本发明涉及一种获取无基准位置度的方法，用于获取加工件上多个孔的位置度，包括：步骤1，所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的孔；步骤2，通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面；步骤3，通过所述加工面构建坐标系；步骤4，通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值；步骤5，通过Rational‑DMIS测量软件根据该理论值得出所述位置度，通过将每行圆元素以及每列圆元素采用拟合公式产生拟合线，以拟合线建立坐标系，此坐标系的建立均衡了各方向上的圆元素的极角与极径误差，减少了不同位置的圆元素的误差累积，可以正确反映出被测圆元素的相互位置关系。
基本信息
专利标题 ：
一种获取无基准位置度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112683208A
申请号 ：
CN202011398720.X
公开（公告）日 ：
2021-04-20
申请日 ：
2020-12-04
授权号 ：
CN112683208B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
陶逸卿王碧青张红磊王帼媛
申请人 ：
中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区南苑东路5号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011398720.X
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2021-05-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/00
申请日 : 20201204
申请日 : 20201204
2021-04-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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