数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器
公开
摘要
本发明提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器，所述数据的分析方法包括：采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号；所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况；计算所述反馈数据信号之间的差异；所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。本发明所述数据的分析方法/校正方法/系统、存储介质及磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度，从而提高编码器的解码精度，实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。
基本信息
专利标题 ：
数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593754A
申请号 ：
CN202011409593.9
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
袁卫华
申请人 ：
华大半导体有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中科路1867号A座9层
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
张燕
优先权 ：
CN202011409593.9
主分类号 ：
G01D5/14
IPC分类号 ：
G01D5/14 G01D18/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/12
采用电或磁装置
G01D5/14
影响电流或电压的大小
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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