物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品
公开
摘要
本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
基本信息
专利标题 ：
物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609684A
申请号 ：
CN202011432043.9
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈志强张丽孙运达金鑫许晓飞黄清萍沈乐常铭
申请人 ：
同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
杨静
优先权 ：
CN202011432043.9
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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