一种测定吲哚布芬杂质的分析方法
公开
摘要
本发明公开了一种测定吲哚布芬杂质的分析方法，以十八烷基硅烷键合硅胶或辛烷基键合硅胶为固定相进行色谱分离，采用紫外检测仪进行分析检测；所述流动相为溶剂A和溶剂B的混合，所述溶剂A为磷酸缓冲溶液，所述的溶剂B选自甲醇或乙腈或甲醇与乙腈的混合与磷酸的混合液。所述方法专属性、精密度、定量限、检测限、准确度、线性和范围、溶液稳定性都符合要求；同时实验操作简便、快速、成本低，对吲哚布芬的质量控制及用药安全保证具有极其重要的意义。
基本信息
专利标题 ：
一种测定吲哚布芬杂质的分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624339A
申请号 ：
CN202011438111.2
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张霞王新月倪郑华
申请人 ：
杭州中美华东制药有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市拱墅区莫干山路866号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011438111.2
主分类号 ：
G01N30/02
IPC分类号 ：
G01N30/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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