一种微动开关触点寿命测试系统及测试方法
公开
摘要
本发明涉及一种微动开关触点寿命测试系统及测试方法，包括用于驱动触发微动开关的驱动触发装置，用于根据微动开关被触发后的动作信号来判断微动开关是否正常的检测控制装置，以及将测试次数以及测试结果进行显示的人机交互装置。通过采用驱动触发装置对微动开关进行触发，模拟了真实的应用环境，保证了触发事件的持续性和稳定性，通过检测控制装置实现了自动判断微动开关触点是否发生了异常并对测试结果进行记录，实现了微动开关的可靠测试以及测试数据的可视化记录，降低了对人员监控的依赖性，并提高了测试的可信度。
基本信息
专利标题 ：
一种微动开关触点寿命测试系统及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609512A
申请号 ：
CN202011442953.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
焦明青贾克元刘佩唐学芳葛亚龙彭俊召方春阳郑召敏冯忠祥赵帅兵宋利卡
申请人 ：
许继电气股份有限公司;许继集团有限公司
申请人地址 ：
河南省许昌市许继大道1298号
代理机构 ：
北京中创云知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
肖佳
优先权 ：
CN202011442953.5
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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