基于交比不变的微凸点高度测量装置及参数标定方法
公开
摘要

一种基于交比不变的微凸点高度测量装置,包括线结构光投射器、摄像机、数据处理中心、二维运动平台以及高精度标准台阶,其中,线结构光投射器,用于投射一定模式的结构光到高精度标准台阶的台阶平面上;二维运动平台,用于带动台阶水平移动,使得线结构光投射器所发出的线结构光投射在不同高度的台阶平面上;高精度标准台阶,用于使得线结构光光条在不同高度成像;摄像机,用于拍摄含有光条的台阶图像;数据处理中心,用于图像处理,数据运算,计算标定参数。本发明在高度方向上基于交比不变的标定方法,能够实现结构光参数标定,并且省去了复杂的坐标系转化运算,操作简单,便于实现,能够提高标定效率,扩大结构光测量的适用范围。

基本信息
专利标题 :
基于交比不变的微凸点高度测量装置及参数标定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114623769A
申请号 :
CN202011462190.0
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2020-12-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孟繁昌张滋黎纪荣祎崔成君潘映伶张佳董登峰周维虎
申请人 :
中国科学院微电子研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路3号
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王江选
优先权 :
CN202011462190.0
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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