用于检测系统缺陷的简化测试结构设计方法
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摘要

本发明提供了一种用于检测系统缺陷的简化测试结构设计方法,包括:步骤S1、模拟计算出实际器件的最终工艺窗口,模拟计算出实际器件工艺窗口以外的系统缺陷;步骤S2、依据实际器件制程仿真的结果提取关键结构;步骤S3、根据提取的关键结构进行简化测试结构的设计;步骤S4、将设计的简化测试结构作为仿真模型的输入,模拟计算出简化测试结构制程最终的系统缺陷;步骤S5、对比实际器件制程仿真与简化测试结构制程仿真在相同工艺窗口下所产生的系统缺陷信息是否一致,本发明采用了仿真手段与实验验证相结合的简化测试结构设计方法,依据两个制程仿真结果进行系统缺陷对比进行简化测试结构设计,并在仿真后进行实验验证,确保仿真设计可靠性。

基本信息
专利标题 :
用于检测系统缺陷的简化测试结构设计方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112685889A
申请号 :
CN202011573097.7
公开(公告)日 :
2021-04-20
申请日 :
2020-12-24
授权号 :
CN112685889B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
宋毅杨德坤刘胜桂成群
申请人 :
武汉大学
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
石超群
优先权 :
CN202011573097.7
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F30/17  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-05-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20201224
2021-04-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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