基于毫米波成像的安检装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于毫米波成像的安检装置,其特征在于:所述基于毫米波成像的安检装置包括:至少一个毫米波检测部,用于对人体进行毫米波检测;移动部,与所述毫米波检测部相连接,用于限定毫米检测部的移动轨迹;所述移动部的移动轨迹呈封闭状且移动轨迹所在平面垂直于水平面;驱动部,与所述移动部相连接,提供所述移动部的驱动力;其中,所述移动部包含有:夹持部,用于固定毫米波检测部;封闭式轨迹带,用于提供所述毫米波检测部的移动轨迹;所述驱动部驱动所述封闭式轨迹带进行周期性往复运动。本实用新型所达到的有益效果:提供一种利用毫米波进行安检的设备,大大地提高安检的准确率以及效率。
基本信息
专利标题 :
基于毫米波成像的安检装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020047028.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-09
授权号 :
CN212207699U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
吴亮杨明辉
申请人 :
杭州芯影科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市莫干山路1418-25号2幢A座1层(上城科技工业基地)
代理机构 :
南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙承尧
优先权 :
CN202020047028.1
主分类号 :
G01V3/12
IPC分类号 :
G01V3/12
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测;;地磁场特性的测量;例如,磁偏角或磁偏差
G01V3/12
利用电磁波操作
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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