一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器，涉及检测设备技术领域。该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器，包括底座，底座顶部靠近一个拐角处设置有电源开关，底座顶部位于电源开关一侧设置有主板开关，底座顶部中心处设置有定位柱架，且定位柱架顶部设置有多个定位柱，底座顶部靠近一侧边缘处设置有电源正接线柱。该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器，使用时，将检测物通过定位杆进行快速有效的限位放置，通过控制手柄使升降架能够有效的带动测试触针高效的进行测试物的功能检测，有效的弥补了人为检测的偶然性，使检测物件实际使用时能够更为高效的进行功能的实现。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020076177.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-13
授权号 ：
CN211785937U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
刘建明陈志阳
申请人 ：
深圳市燊阳科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道鹤州社区洲石路743号深业世纪工业中心C栋1106
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
肖宇扬
优先权 ：
CN202020076177.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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