本实用新型提供高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，涉及测试仪领域。该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪包括测试仪本体，所述测试仪本体一侧设置有齿条，所述齿条一侧啮合连接有齿轮，所述齿轮内部固定连接有蜗杆，所述蜗杆顶部啮合连接有蜗轮，所述蜗轮内部固定连接有转动杆。该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，齿轮转动带动蜗杆转动，蜗杆转动带动蜗轮转动，蜗轮转动带动转动杆转动，转动杆转动带动测试仪本体转动，同时通过蜗杆带动蜗轮转动，便于在测试仪本体调节完角度之后使测试仪本体固定，此结构有益于对测试仪本体进行角度调节，便于对测试仪本体从不同角度进行观测，结构简单，操作方便。