应用于地基检测的位移计
授权
摘要
本实用新型涉及一种应用于地基检测的位移计，包括：本体、底壳、面板，所述底壳为上表面开口且内部开设有空腔的箱体结构，所述底壳的一侧开设有缺口，所述本体的一侧设有接头，所述本体嵌设在底壳的空腔内，所述接头贯穿缺口，所述面板可拆卸安装在底壳的上表面，所述面板上开设有视窗，所述视窗用于观察所述本体显示屏上的图像和调节本体上的按钮，所述面板下表面且在视窗的下方设有软质透明膜。本实用新型在位移传感器本体外设置了防护装置，将本体保护起来，本体不易损坏。
基本信息
专利标题 ：
应用于地基检测的位移计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020112256.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-17
授权号 ：
CN211346738U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
孙森肖斌侯宇轩干志兵
申请人 ：
武汉建诚工程技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市江汉区建设大道631号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020112256.2
主分类号 ：
G01B21/02
IPC分类号 ：
G01B21/02 E02D1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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