一种应用于曲面屏的缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种应用于曲面屏的缺陷检测装置，所述曲面屏包含平面和曲面，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：相机、检测模块和光路延伸补偿模块；所述相机用来对曲面屏的平面和曲面进行成像获取图像；所述检测模块用于根据所述图像输出缺陷检测结果；所述光路延伸补偿模块被安装在所述曲面屏曲面或所述曲面屏平面在所述相机上成像的光路上，使得所述曲面屏曲面或所述曲面屏平面经过所述光路延伸补偿模块在所述相机上成像，并且使得所述曲面屏曲面在所述相机上成像的光程和所述曲面屏平面在所述相机上成像的等效成像距离相同或等效成像距离差在预设的阈值范围内。本实用新型可以实现曲面和平面的单次对焦成像。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于曲面屏的缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020126067.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN212134520U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
洪志坤张胜森欧昌东郑增强
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
雷霄
优先权 ：
CN202020126067.0
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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