LED支架缺陷检测及剔除设备
授权
摘要
本实用新型提供一种LED支架缺陷检测及剔除设备。LED支架缺陷检测及剔除设备包括：机柜、限位轨道、缺陷检测装置和缺陷剔除装置，缺陷检测装置包括：相机镜头和计算模块，相机镜头位于限位轨道的上方，相机镜头的拍摄方向朝向料带，以获取料带的图像，计算模块与相机镜头通信连接，计算模块用于判断料带是否存在缺陷颗粒；缺陷剔除装置包括：剔除模组和剔除驱动机构；限位轨道包括：进料口和出料口，料带通过进料口进入限位轨道并通过出料口离开限位轨道，剔除模组位于出料口远离进料口的一侧。本实用新型能够对料带进行缺陷检测，并对缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。
基本信息
专利标题 ：
LED支架缺陷检测及剔除设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020141394.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-21
授权号 ：
CN211295051U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
薛春花陈润康钟建平林淼张春平刘志永陈志列
申请人 ：
研祥智能科技股份有限公司;研祥智慧物联科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永刚
优先权 ：
CN202020141394.3
主分类号 ：
H01L21/67
IPC分类号 ：
H01L21/67 B07C5/34 B07C5/342
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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