一种用于扫描电子显微镜原位观测的疲劳加载装置
授权
摘要
本实用新型属于材料力学性能测试领域,公开了一种用于扫描电子显微镜原位观测的疲劳加载装置,主要由结构体、力学加载单元、数据采集单元、固定连接单元和密封连接单元组成,力学加载单元和数据采集单元设置在结构体内部;力学加载单元包括电机、第一带轮、传送带、第二带轮、压带轮、丝杠、螺母顶块、夹具组;数据采集单元包括光栅尺、读数头、载荷传感器;固定连接单元设置在结构体底部,密封连接单元设置在SEM样品室的出线口。本实用新型实现了SEM在线原位观测材料疲劳试验过程中微观结构变化和损伤失效行为观察,打破了一般原位观测拉伸设备的常规限制,可集成拉伸、压缩、疲劳等多种力学试验形式。
基本信息
专利标题 :
一种用于扫描电子显微镜原位观测的疲劳加载装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020153153.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-05
授权号 :
CN211905162U
授权日 :
2020-11-10
发明人 :
陈刚冯少武林强
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
琪琛
优先权 :
CN202020153153.0
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251 G01N3/32 G01N3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2020-11-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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