一种校靶仪
授权
摘要
本申请涉及一种校靶仪，属于设备校准技术领域，所述校靶仪包括：惯性测量仪、光准直测量仪和平面反射镜组成，所述惯性测量仪与所述光准直测量仪在结构上轴线平行。省去了现有方案中需要顶飞机的繁重工作，减小了标校误差和场地等需要，提高了校靶精度和效率。
基本信息
专利标题 ：
一种校靶仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020198539.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-24
授权号 ：
CN211784204U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
王辉
申请人 ：
北京辉嫄通航科技发展有限公司
申请人地址 ：
北京市通州区经济开发区西区创业园广益一街49号
代理机构 ：
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨立秋
优先权 ：
CN202020198539.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01C21/16
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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