AOI设备快速光强曲线校正方法、系统及AOI设备
授权
摘要

本发明公开了AOI设备快速光强曲线校正方法、系统及AOI设备,涉及AOI设备光强曲线校正技术领域。方法包括以下步骤:同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线,直至全部单个光学头的全部光源的光强曲线建立完成;利用建立的光强曲线,将AOI设备的全部单个光学头设置为与目标图像灰度值相对应的电流值,以保证全部单个光学头在相同的检测样品上成像时的图像灰度保持一致。系统包括:光强曲线建立模块以及光强曲线校正模块。本发明的优点是:通过同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线,相比于传统逐一光学头逐一光源模块建立光强曲线的方式而言,极大的提升了AOI设备光强曲线的建立效率。

基本信息
专利标题 :
AOI设备快速光强曲线校正方法、系统及AOI设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114061751A
申请号 :
CN202210036894.4
公开(公告)日 :
2022-02-18
申请日 :
2022-01-13
授权号 :
CN114061751B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
张国栋邵智勇
申请人 :
武汉中导光电设备有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市武汉经济技术开发区高科技产业园16号楼4楼
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
敖俊
优先权 :
CN202210036894.4
主分类号 :
G01J1/44
IPC分类号 :
G01J1/44  G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2022-04-01 :
授权
2022-03-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/44
申请日 : 20220113
2022-02-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332