频域介电谱曲线的校正方法、装置和计算机设备
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种频域介电谱曲线的校正方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述频域介电谱曲线的校正方法，包括：分别获取不同恒定温度下套管的介质损耗曲线的第一测试数据；根据所述第一测试数据，获取预设介电弛豫模型中多个特征参数值与温度之间的非线性关系；根据所述介电弛豫模型和所述非线性关系，获取时变温度下套管的介质损耗曲线的每个测试频点对应的等效温度；根据阿伦尼乌斯公式、所述测试频点与所述等效温度之间的对应关系，对时变温度下的频域介电谱曲线的频点进行平移校正。
基本信息
专利标题 ：
频域介电谱曲线的校正方法、装置和计算机设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460423A
申请号 ：
CN202111622541.4
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁兆杰田杰张大宁姚欢民张冠军
申请人 ：
深圳供电局有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
纪婷婧
优先权 ：
CN202111622541.4
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/12
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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