介电层的制造方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要

一种介电层的制造方法,首先提供一衬底,并于衬底上形成介电层。然后,对介电层进行氮化工艺。然后,对介电层进行第一退火工艺,第一退火工艺所使用的气体为含有不活泼气体与氧气的第一气体,其中第一气体的不活泼气体对氧气具有第一分压比。之后,对介电层进行第二退火工艺,第二退火工艺所使用的气体为含有不活泼气体与氧气的第二气体,其中第二气体的不活泼气体对氧气具有第二气体分压比,且第二气体分压比小于第一气体分压比。此外,二次退火工艺中至少有一次温度要在950℃以上。此发明方法可使介电层中的氮掺杂剂分布均匀。

基本信息
专利标题 :
介电层的制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1953144A
申请号 :
CN200510118135.9
公开(公告)日 :
2007-04-25
申请日 :
2005-10-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王俞仁颜英伟龙健华詹书俨黄国泰
申请人 :
联华电子股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹科学工业园区
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
陶凤波
优先权 :
CN200510118135.9
主分类号 :
H01L21/3105
IPC分类号 :
H01L21/3105  H01L21/3115  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/30
用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的
H01L21/31
在半导体材料上形成绝缘层的,例如用于掩膜的或应用光刻技术的;以及这些层的后处理;这些层的材料的选择
H01L21/3105
后处理
法律状态
2009-07-01 :
发明专利申请公布后的驳回
2007-06-13 :
实质审查的生效
2007-04-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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