一种测量反射式体光栅性能的装置及方法
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摘要
本发明公开了一种测量反射式体光栅性能的装置及方法,其中,装置包括在水平线上依次放置的可调谐激光器、光阑、分光片、电动转台以及第一功率计,所述电动转台上设置有待测反射式体光栅,所述可调谐激光器发出的光束依次经过所述光阑、分光片、待测反射式体光栅后进入第一功率计;所述分光片下方还设置有用于接收所述分光片反射光束的第二功率计;所述可调谐激光器、电动转台、第一功率计以及第二功率计均连接在一电脑上。本发明提供的装置能够对不同规格的反射式体光栅的中心波长、反射效率、半高宽、倾斜角等性能参数进行准确测量,其构造简单、测量方法和数据处理清晰明了,具有普适性。
基本信息
专利标题 :
一种测量反射式体光栅性能的装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113899533A
申请号 :
CN202111492666.X
公开(公告)日 :
2022-01-07
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
CN113899533B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
晋帅胡红雷宋学智嵇舒豪
申请人 :
杭州拓致光电科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市富阳区春江街道江南路68号第23幢303室
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐凯凯
优先权 :
CN202111492666.X
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-01 :
授权
2022-01-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20211208
申请日 : 20211208
2022-01-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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