一种探针弯折装置
授权
摘要

本实用新型公开的属于探针制造技术领域,具体为一种探针弯折装置,其包括:底板、滑块和测量板,所述底板的顶端开设有两个滑槽,两个所述滑槽内均活动连接有滑块,两个所述滑块的一侧均开设有第一凹孔和第二凹孔,所述底板的一侧固定安装有测量板,所述测量板为半圆形结构,所述测量板上设置有刻度,所述底板的顶端开设有矩形凹槽,两个所述第一凹孔为相互匹配的半圆柱形结构,两个所述第二凹孔为相互匹配的矩形结构,两个所述滑块的顶端均开设有扣拉槽。该探针弯折装置,结构简单,效率更高,节约时间,弯折角度直观,更加精准。

基本信息
专利标题 :
一种探针弯折装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020219309.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-27
授权号 :
CN212111534U
授权日 :
2020-12-08
发明人 :
王英贤
申请人 :
上海依然半导体测试有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区碧波路500号204室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020219309.0
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-12-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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