探针卡装置及其探针座
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摘要

本发明公开一种探针卡装置及其探针座,所述探针座包含间隔设置的上导板单元与下导板单元、间隔板及阻抗调节件。上导板单元包含一第一导板、与第一导板间隔设置的第二导板及设置于第二导板且远离第一导板的可挠性载板。所述可挠性载板形成有多个通孔及一线路层。阻抗调节件设置于可挠性载板,并电性耦接于线路层。间隔板夹持于可挠性载板与下导板单元之间。所述线路层包含有镀设于至少一个通孔内的至少一个电镀壁,并且设置有至少一个所述电镀壁的所述可挠性载板部位能接收一外力而与第二导板分离。据此,探针座设有能与第二导板分离的可挠性载板,使穿设于探针座的部分导电探针能通过可挠性载板电性耦接于阻抗调节件,达到降低阻抗效果。

基本信息
专利标题 :
探针卡装置及其探针座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111239449A
申请号 :
CN201811435513.X
公开(公告)日 :
2020-06-05
申请日 :
2018-11-28
授权号 :
CN111239449B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
李文聪谢开杰曾照晖王宪瑜
申请人 :
中华精测科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾桃园市
代理机构 :
隆天知识产权代理有限公司
代理人 :
聂慧荃
优先权 :
CN201811435513.X
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/067  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-06-10 :
授权
2020-06-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/073
申请日 : 20181128
2020-06-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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