本发明公开一种探针卡装置及自对准探针，所述自对准探针包含用来顶抵于信号转接板的一转接端部、用来可分离地顶抵于待测物的一测试端部、相连于所述转接端部的一第一连接部、相连于所述测试端部的一第二连接部及连接所述第一连接部与所述第二连接部的一弧形部。其中，所述转接端部与所述测试端部共同定义有一基准轴线，所述第一连接部形成有一导正凸起，所述弧形部与所述基准轴线所相隔的一最大距离，其大于75微米并小于150微米。据此，通过所述第一连接部形成有所述导正凸起，使得所述自对准探针与所述第一导板单元之间的间隙能够被有效地控制，据以利于所述探针卡装置的发展与应用。