双面射频测试夹具
授权
摘要

本实用新型涉及一种双面射频测试夹具,涉及测试夹具的技术领域,其包括上层测试座以及下层测试座,所述下层测试座上设置有供测试件预安装的容纳槽,所述下层测试座上且位于容纳槽的底部设置有与测试件的下测试点相抵触的下层测试接口,所述下层测试座上设置有贯穿于上层测试座中的导向柱,所述上层测试座上设置有与测试件的上测试点相抵触的上层测试接口,所述上层测试座上设置有与下层测试座可拆卸连接的紧固组件,所述紧固组件用于保持上层测试接口与测试件的上测试点以及下层测试接口与测试件的下测试点相互抵触。本实用新型具有可以对测试件的双面进行同时测试以提高测试效率的效果。

基本信息
专利标题 :
双面射频测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020241839.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-02
授权号 :
CN211826363U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
林斌张伟詹昌吉
申请人 :
宁波吉品科技有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市镇海区蛟川街道东生路238号5幢
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020241839.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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