一种用于离子抛光试样EBSD测试的样品台
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于离子抛光试样EBSD测试的样品台,包括支撑杆、夹具座与夹具;所述支撑杆的下端与扫描电镜样品台相连接,所述支撑杆的上端与夹具座相连接,所述夹具座包括与支撑杆上端相连的连接部分以及位于连接部分的上部用于安装夹具的夹具安装端,所述夹具用于安装待测试的试样,所述夹具座的夹具安装端的侧面为前后左右分别设置的四个支撑面,每个支撑面上各设置有一个夹具。本实用新型的样品台既可用于试样的离子抛光,也可用于EBSD测试,使用起来具有结构简单、操作方便、效率高的优点。

基本信息
专利标题 :
一种用于离子抛光试样EBSD测试的样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020250118.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-04
授权号 :
CN211669111U
授权日 :
2020-10-13
发明人 :
赵学平白朴存刘飞侯小虎崔晓明
申请人 :
内蒙古工业大学
申请人地址 :
内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49#内蒙古工业大学
代理机构 :
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汤东凤
优先权 :
CN202020250118.0
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2020-10-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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