一种小型基质辅助激光解析直线式飞行时间质谱仪
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摘要

一种小型基质辅助激光解析直线式飞行时间质谱仪,涉及质谱仪技术领域。离子加速器、聚焦透镜和离子信号探测器从下到上依次安装于真空腔体内,溅射激光源和CCD相机位于离子加速器的侧上方;离子加速器包括依次设置的第一电极片、第二电极片和第三电极片,第一电极片位于底层,第一电极片上设有样品槽,样品靶装于样品槽内,第二电极片设有供激光和CCD相机透光的大圆孔,以及供离子传输的小圆孔,第三电极片接地;CCD相机观测并选择溅射位置,溅射激光源产生激光并进入真空腔体照射到样品靶上,使样品分子离子化,离子通过离子加速器和聚焦透镜到达离子信号探测器。紧凑小巧,结构简单,操作方便,对所检测到的离子有非常高的分辨率。

基本信息
专利标题 :
一种小型基质辅助激光解析直线式飞行时间质谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020301264.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-12
授权号 :
CN211238162U
授权日 :
2020-08-11
发明人 :
谭代健林霞张将乐
申请人 :
厦门汉可真空仪器有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市翔安区市头路98号二层A室01
代理机构 :
厦门南强之路专利事务所(普通合伙)
代理人 :
张素斌
优先权 :
CN202020301264.1
主分类号 :
H01J49/40
IPC分类号 :
H01J49/40  H01J49/02  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/40
飞行时间型分光仪
法律状态
2020-08-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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