用于基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的激光引入调节装置
授权
摘要
用于基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的激光引入调节装置，所述激光引入调节装置安装于飞行时间质谱仪的离子源外腔上，设有径向调节螺杆及轴向调节旋钮，将激光通过光纤引入飞行时间质谱仪，在设定范围内激光位置自由可调。该装置的优点在于：结构简单、可靠安装方便，不会出现卡涩、激光轴心线偏斜等问题，实现对基质辅助激光解析飞行时间质谱仪激光调节与校准的需求。
基本信息
专利标题 ：
用于基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的激光引入调节装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121693621.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-23
授权号 ：
CN216161691U
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
黄昊刘兰廖若杭
申请人 ：
厦门金诺花科学仪器有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市翔安区市头路98号二层A室
代理机构 ：
厦门南强之路专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
张素斌
优先权 ：
CN202121693621.4
主分类号 ：
H01J49/02
IPC分类号 ：
H01J49/02 H01J49/40
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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