SSD测试用的转接结构
授权
摘要
本实用新型公开了SSD测试用的转接结构，包括主面板、垫片、转接模块、可视透窗和辅面板，所述主面板一侧的内壁上固定有等间距的垫片，且垫片两侧的主面板内壁上皆安装有两组转接模块，并且转接模块远离垫片一侧的主面板内部设有橡胶侧板，所述主面板两端的内壁上皆设有通气结构，橡胶侧板两端的主面板内壁上皆固定有定位基座，且定位基座表面的中心位置处设有螺旋槽，所述主面板表面的中心位置处安装有辅面板，且辅面板表面的中心位置处设有可视透窗，辅面板表面的拐角位置处皆设有定位销。本实用新型不仅提高了转接结构使用时的便捷性，延长了转接结构的使用寿命，而且提高了转接结构的适用范围。
基本信息
专利标题 ：
SSD测试用的转接结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020311141.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-13
授权号 ：
CN211016550U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
黄少娃
申请人 ：
深圳市铨兴科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区华强北街道福强社区华强北路1002号赛格广场3507A
代理机构 ：
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曾令安
优先权 ：
CN202020311141.6
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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