一种X光束位置测量探测器
授权
摘要
本实用新型涉及一种X光束位置测量探测器，安装在光路真空管道上，包括与真空管道对接的真空腔体，所述真空腔体内部安装有一探测主体，该探测主体沿水平方向与一水平运动机构相连，沿竖直方向与一竖直运动机构相连，所述探测主体包括一电路板，该电路板上安装有一探测片，正反两面镀有电极，且该电极与电路板电导通。本实用新型可有效实现光斑大小0.1％的光束位置变化实时测量，能在有限的范围内实现在垂直于光束线方向的平面上进行二维调节。另外，本实用新型的装置结构紧凑、占用空间小，且安装有准直元件，方便对装置完成安装、拆分、维护和准直。
基本信息
专利标题 ：
一种X光束位置测量探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020312969.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-13
授权号 ：
CN211786136U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
何迎花龚培荣徐慧超赵子龙张永立朱周侠刘平孙小沛
申请人 ：
中国科学院上海高等研究院
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN202020312969.3
主分类号 ：
G01T1/29
IPC分类号 ：
G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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