一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,包括光斑探测模块和目标观测模块,光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜,光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件,光斑探测器的中心光轴与聚光镜的轴垂直;目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器,所述激光器安装在位置角度调整装置上。该装置基于双探测器,分划板作为基准,通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合,即可实现同轴矫正,整个装置采用光学元件构成,其成本低,可调精度高。
基本信息
专利标题 :
一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020330898.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-17
授权号 :
CN211348876U
授权日 :
2020-08-25
发明人 :
杨博宋伟红高大华
申请人 :
四川中科朗星光电科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区天府二街368号2幢14层3号
代理机构 :
成都熠邦鼎立专利代理有限公司
代理人 :
田甜
优先权 :
CN202020330898.X
主分类号 :
G02B27/30
IPC分类号 :
G02B27/30 G02B27/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
G02B27/30
准直仪
法律状态
2020-08-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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