一种X射线检测系统的探测器固定装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线检测系统的探测器固定装置，包括框体，所述框体内壁两侧均开设有第一滑轨，所述第一滑轨两侧之间滑动连接有滑动架，滑动架和框体通过第一滑轨实现滑动连接，所述框体一端内壁顶部和底部均开设有第二滑轨，所述第二滑轨两侧均滑动连接有移动底座。本实用新型通过设置第一滑轨使滑动架能够和框体滑动连接，从而可以根据不同探测器的长度来改变位置，通过设置第二滑轨使移动底座和框体滑动连接，从而使两侧的胶垫对不同宽度的探测器进行夹紧固定，根据以上的设置可以使装置根据不同大小的探测器改变固定位置，使装置具有很高的适应性和实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线检测系统的探测器固定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020368957.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-23
授权号 ：
CN211877813U
授权日 ：
2020-11-06
发明人 ：
李旭明
申请人 ：
广州中安科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市增城区新塘镇东坑三横中路1号1幢901房
代理机构 ：
深圳龙图腾专利代理有限公司
代理人 ：
姜书新
优先权 ：
CN202020368957.2
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-11-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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