一种直线轨迹扫描CT检测装置
授权
摘要
本申请涉及一种直线轨迹扫描CT检测方法及装置,包括射线源和探测器,所述射线源用于产生穿透被测对象的锥形X射线束,所述探测器用于接收并检测透过所述被测对象的X射线束,还包括第一直线运动机构和第二直线运动机构,所述第一直线运动机构和第二直线运动机构均包括导轨和电机,且两个导轨平行设置,所述射线源和探测器分别安装在两个平行导轨上,通过电机控制射线源和探测器以被测对象为中心沿两个平行导轨作相对平行直线运动,对被测对象进行多点位的直线扫描。
基本信息
专利标题 :
一种直线轨迹扫描CT检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020402889.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-26
授权号 :
CN212483416U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
张博刘丰林沈宽李清杨晓辉陶亚光刘光辉叶中飞陈钊任鹏亮宋高丽伍川谢凯魏建林王超
申请人 :
国网河南省电力公司电力科学研究院;重庆大学;国家电网有限公司
申请人地址 :
河南省郑州市二七区嵩山南路85号
代理机构 :
苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张锦波
优先权 :
CN202020402889.7
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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