一种框架结构层间位移角测量装置
授权
摘要
本实用新型公开一种框架结构层间位移角测量装置，包括三个方形底座(1)，在底座(1)上方中心位置处均设有高度一致的竖直的支撑杆(2)，在每个支撑杆(2)上又分别设有两根呈一定角度的分支杆(21)，且在分支杆(21)的端部设有激光位移传感器(3)和反射片(4)，激光位移传感器(3)均与采集位移系统(5)相连接，该装置通过现场监测框架结构三边的位移，可以求解出框架结构层间位移角。
基本信息
专利标题 ：
一种框架结构层间位移角测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020414413.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN211626408U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
魏昶帆管庆松叶鹏刘东坤吴勇刘浩杰
申请人 ：
云南省建筑科学研究院;云南建筑工程质量检验站有限公司;震安科技股份有限公司
申请人地址 ：
云南省昆明市五华区学府路150号
代理机构 ：
昆明今威专利商标代理有限公司
代理人 ：
赛晓刚
优先权 ：
CN202020414413.5
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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