一种X射线超快检测装置
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摘要
本实用新型涉及一种X射线超快检测装置，以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大，成本高，且控制较为复杂；超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电探测器、读出电路。激光器发出的测试激光传输至波长转换机构，波长转换机构将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光，再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构，时域放大机构对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后，输出至光电探测器，光电探测器将接收到的光信号转换为电信号，并通过读出电路显示。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线超快检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020417572.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN212229183U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
尹飞汪韬高贵龙何凯闫欣田进寿
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
史晓丽
优先权 ：
CN202020417572.0
主分类号 ：
G01T1/16
IPC分类号 ：
G01T1/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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