一种新型探针卡检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型探针卡检测设备，包括工作台，所述工作台上表面活动安装有调节机构，所述调节机构表面固定安装有固定机构，所述工作台表面位于调节机构两侧固定安装有固定支架，所述固定支架上固定安装有安装座，所述安装座上固定安装有显微镜，所述安装座下表面固定安装有照明灯，所述工作台表面位于固定支架一侧固定安装有控制面板，所述工作台表面位于固定支架另一侧固定安装有显示屏幕，所述工作台下表面位于四角位置均固定安装有固定支脚。本实用新型所述的一种新型探针卡检测设备，能够调通过轴承使得调节支座在工作台表面旋转，从而调节检测的角度，并且可以通过橡胶吸盘将探针卡固定，从而防止使用夹具对探针卡造成损伤。
基本信息
专利标题 ：
一种新型探针卡检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020423470.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-30
授权号 ：
CN211401082U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
王艾琳赵梁玉于海超
申请人 ：
强一半导体（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020423470.X
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/02 G01B11/06 G01B11/08 G01B11/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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