用于密绕线圈分布参数反演的模型电路及测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及线圈参数测量技术领域，特别涉及一种用于密绕线圈分布参数反演的模型电路及测量装置，包含：串联在待测量信号源电路中用于测量线圈电流的串联电阻，及与串联电阻串联用于模拟线圈天线的电路模型；所述电路模型由电感、直流电阻和分布电容构成，其中，电感和直流电阻串联后与分布电容并联。本实用新型结构简单，设计新颖、科学合理，解决密绕线圈在低频段、磁芯磁导率未知电感量难以直接测量和估计、分布电容大且随频率变化难以测量和估计等的问题，便于准确估计出线圈在不同频率的电感和分布电容，成本低、参数估计精度高，为实现远距离磁感应通信奠定技术基础。
基本信息
专利标题 ：
用于密绕线圈分布参数反演的模型电路及测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020544478.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN212693887U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
吴志东唐涛杨宾李建兵王鼎王成赵排航
申请人 ：
中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
申请人地址 ：
河南省郑州市高新区科学大道62号
代理机构 ：
郑州大通专利商标代理有限公司
代理人 ：
周艳巧
优先权 ：
CN202020544478.1
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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