一种TOF深度测量装置及电子设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种TOF深度测量装置及电子设备,其中TOF深度测量装置包括:发射模组、采集模组以及控制与处理器;其中发射模组用于发射光束,其包括有光源以及光束扫描器,通过光束扫描器偏转光源发出的光束以照射目标物体的给定区域;采集模组用于采集经目标物体反射回的光束,其包括有由像素阵列组成的图像传感器;控制与处理器用于控制所述光束扫描器偏转光束以照射目标物体的给定区域,并基于偏转后形成的光束激活所述图像传感器中相应区域的像素,以响应由给定区域反射回的光束而累积的光电荷,基于该光电荷计算相位差以获得所述目标物体的距离并输出目标物体的深度图像。本实用新型TOF深度测量装置提升图像信噪比的同时可以提高图像的分辨率且降低功耗。
基本信息
专利标题 :
一种TOF深度测量装置及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020595778.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-20
授权号 :
CN212694038U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
王兆民许星
申请人 :
奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
代理机构 :
深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
田志立
优先权 :
CN202020595778.2
主分类号 :
G01S17/10
IPC分类号 :
G01S17/10 G01S17/894 G01S7/481 G01S7/484
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
G01S17/10
应用断续的脉冲调制波的发射
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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