一种TOF深度测量装置及电子设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种TOF深度测量装置及电子设备,其中TOF深度测量装置包括发射模组,用于向目标物体投射点阵图案;其中,所述点阵图案包括真实光斑形成的真实点阵以及虚拟光斑形成的虚拟点阵;采集模组,接收经目标物体反射回来的反射光信号;采集模组包括由像素阵列组成的图像传感器,其中,像素阵列的一部分像素用于检测真实光斑反射回的第一反射光信号,另一部分像素用于检测非真实光斑直接反射回的第二反射光信号;控制与处理器,分别与发射模组和采集模组连接,根据第二反射光信号对第一反射光信号进行滤除得到第三反射光信号,并基于第三反射光信号计算相位差得到目标物体的第一深度图。本实用新型在实现高分辨率深度图像的同时解决了反射光束多路径干扰的问题。
基本信息
专利标题 :
一种TOF深度测量装置及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020596333.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-20
授权号 :
CN212694034U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
孙飞武万多王兆民郑德金王家麒孙瑞
申请人 :
奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
代理机构 :
深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
田志立
优先权 :
CN202020596333.6
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08 G01S17/894 G01S7/4865 G01S7/4915
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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