深度信息测量装置以及电子设备
授权
摘要
本实用新型公开一种深度信息测量装置，包括：dToF传感器，发出照射到物体的红外光并接收反射的光，得到第一深度信息；结构光投射模组，向物体发出带有特征的结构光；结构光红外接收模组，接收物体的反射光，得到大于预设值的第二深度信息。基于上述的深度信息测量装置，本实用新型还公开一种电子设备。本实用新型采用结构光模组在中远距离测量物体的深度信息，dToF传感器在近距离测量物体的深度信息，结合两种不同测量模式的优势，使得近距离和远距离全场景下都能精确地测量出物体的距离；进一步可采取有效的避障措施。
基本信息
专利标题 ：
深度信息测量装置以及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122683348.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-04
授权号 ：
CN216211121U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
陈驰李安张莉萍
申请人 ：
深圳市安思疆科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区朗山路13号南门西侧清华信息港科研楼1层109-10室
代理机构 ：
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
米志鹏
优先权 ：
CN202122683348.3
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/13 G06T7/521
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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