一种TO底座APD测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及光电通信技术领域，公开了一种TO底座APD测试装置，具体为：Z轴移动组件的下方设有料盘组件，Z轴移动组件上连接有检测主板，检测主板与若干个探针相连，料盘组件包括测试主板，TO底座与测试主板相连，探针用于在空间位移机构的带动下与测试主板相接触以对相应的TO底座进行测试。本实用新型提供的一种TO底座APD测试装置，将TO底座连接在测试主板上，检测主板上连接探针，可较易实现检测主板与TO底座的相连形成测试回路，且稳定性较好；设置空间位移机构带动探针移动，可代替人工实现对多个TO底座的自动化测试，减少人为干扰，提高测试稳定性和测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种TO底座APD测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020615369.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-22
授权号 ：
CN212540614U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
邓俊杰黄保
申请人 ：
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
张琪
优先权 ：
CN202020615369.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 H04B10/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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