本实用新型公开了一种半导体的真空吸附检测装置，具体涉及半导体技术领域，包括工作台，所述工作台顶端的左侧固定安装有限位块，所述限位块的一侧可拆卸安装有固定装置，所述工作台顶端的一侧固定安装有第一连接块，所述第一连接块顶端的表面固定安装有支撑杆。本实用新型通过设置限位块，液压杆和防护垫之间的相互配合，从而达到了检测不易出现误差的效果，避免了现有的半导体的真空吸附检测装置在工作的时候，因为装置是放置在工作台面上的，没有加以固定，所以一旦半导体在检测时发生偏移，就会导致装置检测半导体时存在误差，进而影响检测的准确性，而且装置存在误差，还不利于装置发展的问题，增强了装置的实用性。