一种LED灯具老化测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种LED灯具老化测试装置,包括箱体以及箱体侧面固定连接的连通法兰,所述箱体顶端固定连接有胶垫,所述箱体上方设有挡盘,所述箱体中心处开设有中心套,所述挡盘底端中心处固定连接有转柱,且转柱与中心套间隙配合,所述挡盘底端固定连接有挡塞,且挡塞内旋合连接有螺纹柱,所述螺纹柱底端固定连接有待测灯具,所述箱体与中心套之间设有分腔体。本实用新型中,采用多腔式隔离结构,实现了LED灯具便于受到不同环境的控制老化,采用转盘式快速调节结构,一方面实现了减少挡盘与箱体之间间隙的泄漏,另一方面实现了对于各个待测灯具较少耗能的改变环境,从而实现快速改变环境因素测试待测灯具的功能。

基本信息
专利标题 :
一种LED灯具老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020642196.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-25
授权号 :
CN212433356U
授权日 :
2021-01-29
发明人 :
顾红燕
申请人 :
上海慕来检测技术有限公司
申请人地址 :
上海市宝山区高逸路112-118号3幢3029室
代理机构 :
上海霖睿专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈得宗
优先权 :
CN202020642196.5
主分类号 :
G01R31/44
IPC分类号 :
G01R31/44  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2021-01-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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