面板压接测试机构
授权
摘要

本实用新型提出了一种面板压接测试机构,包括机架、工作台及升降压测组件,工作台设置在机架上,用于放置待测面板;升降压测组件可升降设置在工作台上方,升降压测组件上设有若干测试接头;升降压测组件下降以使测试接头与待测面板接触测试。本实用新型技术方案通过将待测面板放置在工作台上,将若干测试接头设置在升降压测组件上,在升降压测组件移动并下降至工作台上时,带动测试接头与放置在工作台上的待测面板接触,从而实现升降压测组件上的多个测试接头与工作台上的待测面板同时接触,实现多端测试的需求,提高产品检测效率,缩短生产周期,提高产量。

基本信息
专利标题 :
面板压接测试机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020783506.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-12
授权号 :
CN212364456U
授权日 :
2021-01-15
发明人 :
刘翔王轩张滨
申请人 :
深圳精智达技术股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东
代理机构 :
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 :
张婷
优先权 :
CN202020783506.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-01-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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