一种三极管自动测试设备
授权
摘要

本实用新型属于三极管领域,尤其是一种三极管自动测试设备,针对现有测试设备不能自动为三极管进行夹持固定,人工加持费时费力,降低了测试设备的测试效率的问题,现提出如下方案,其包括测试机,所述测试机的一侧固定安装有固定座,固定座的顶部开设有固定槽,固定槽内放置有三极管,所述固定槽的两侧内壁上均开设有移动槽,两个移动槽内均滑动安装有移动杆,两个移动杆相互靠近的一端均固定安装有夹板,两个夹板均与三极管相接触,所述固定座上开设有控制腔,两个控制腔的顶部内壁上均开设有通孔。本实用新型结构合理,操作方便,该测试设备能自动为三极管进行夹持固定,加持省时省力,提高了测试设备的测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种三极管自动测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020798097.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-14
授权号 :
CN212675087U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
杨斌黄峰荣何秋生
申请人 :
遂宁合芯半导体有限公司
申请人地址 :
四川省遂宁市高新区物流港玫瑰大道东侧春晓路73号苏哈瑞涛科技园2号厂房
代理机构 :
成都华复知识产权代理有限公司
代理人 :
庞启成
优先权 :
CN202020798097.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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