智能锁钥匙测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种智能锁钥匙测试设备，包括：安全芯片，其型号为CS08；AD采集器；LCD显示器；通讯接口；主控芯片，其型号为STM32，所述主控芯片与所述安全芯片、所述AD采集器、所述LCD显示器、所述通讯接口分别连接，所述通讯接口包括与所述主控芯片通过I2C接口连接的待测主板测试点接口，所述待测主板测试点接口分别连接有USB接口、DB25接口，所述安全芯片与所述待测主板测试点接口过UART串口连接。本实用新型不仅操作简单，可靠性高而且可有效提高测试的准确性及智能锁钥匙的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
智能锁钥匙测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020823420.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN213181795U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
姚新玉庞潼川杨成功
申请人 ：
芯盾物联（北京）信息技术有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区东北旺西路8号院4号楼218号
代理机构 ：
北京远大卓悦知识产权代理有限公司
代理人 ：
史霞
优先权 ：
CN202020823420.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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